透射电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，可用于观察样品的内部结构和微观特征。在TEM中，样品杆（Sample Holder）是用来支持和装载样品的一个重要组件。样品杆的工作方式可能会因不同的TEM设计和样品类型而有所不同，但其基本原理是支持和定位样品，以便电子束可以穿透样品并形成透射电子显微图像。

以下是透射电子显微镜中样品杆的一般工作方式：

样品装载： 样品杆通常具有一个样品台或夹持装置，用于固定和装载样品。样品可以是薄片、细胞切片、纳米颗粒等。在装载样品之前，样品通常需要进行特殊的制备，例如切割、切片、薄化和染色等，以便电子束能够穿透样品。

样品定位： 在样品装载后，样品杆可以调整样品的位置和角度，以确保电子束能够正确穿过样品。这是非常重要的，因为透射电子显微镜需要准确的样品定位来获得清晰的图像。

电子束透射： 一旦样品被正确定位，透射电子束会穿过样品，与样品中的物质相互作用。透射电子与样品中的原子和分子发生相互作用，产生散射和吸收，从而生成透射电子显微图像。

透射电子显微图像获取： 透射电子束通过样品后，进入透射电子显微镜的检测系统。透射电子显微镜的检测系统会记录透射电子的强度和位置，从而形成透射电子显微图像。

数据分析： 获得的透射电子显微图像可以用于分析样品的内部结构、晶体结构、纳米尺度特征等。通过解释图像中的散射和吸收信息，可以获得关于样品组成和性质的信息。

透射电镜原位拉伸样品杆

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