样品杆在扫描电镜（SEM）中是用于操纵样品位置和角度的装置，使得样品可以被电子束扫描并获取高分辨率的图像。样品杆的工作原理基于准确的位置控制和角度调整，以及对样品与电子束之间相互作用的影响。

以下是样品杆在扫描电镜中的工作原理：

位置控制： 样品杆通过电动机、驱动装置或手动控制元件（如旋钮）来实现位置的调整。电动样品杆通过准确的位置编码器和控制电路，可以将样品移动到准确的位置，使得电子束可以在所需区域进行扫描。

角度调整： 样品杆还可以通过机械结构或电动方式调整样品的角度。这对于观察不同角度下的样品特性或进行特定角度的分析非常有用。

电子束和样品的相互作用： 样品杆的调整使得样品可以与电子束相互作用。电子束通过样品的不同区域，与样品的表面原子相互作用，产生次级电子（SE）和反向散射电子（BSE）等信号。这些信号被探测器捕获并用于生成图像和分析。

自动化和预设位置： 一些扫描电镜系统允许用户预设多个位置和角度，实现自动扫描、成像和分析。样品杆可以在不同位置之间自动切换，从而实现多个位置的高分辨率成像。

导电涂层： 为了减少样品表面的电荷积累，一些样品杆可能需要导电涂层或导电夹具，以便提供电子束的导电通路。

透射电镜多孔样品杆

以上就是泽攸科技小编分享的样品杆在扫描电镜中的工作原理。更多样品杆产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。