扫描电镜（SEM）可以提供高倍率的放大能力，其放大倍数通常在几百倍到数十万倍之间。实际的放大倍数取决于具体的SEM系统、样品制备和检测条件。

常见的SEM系统通常具有以下放大倍数范围：

低放大倍数：通常从几十倍到几百倍，用于观察样品的整体形貌、表面结构和粗糙度。

中等放大倍数：通常从几百倍到几千倍，用于更详细地观察样品表面细节、微观结构和颗粒分布。

高放大倍数：通常从几千倍到数万倍，用于观察样品的纳米结构、纳米颗粒、微观组织和断面等。

需要注意的是，高倍率放大可能需要更高的电子束能量和更精细的样品制备，以获得清晰、高对比度的图像。同时，放大倍数也取决于样品的大小、形状和表面特征。

值得一提的是，某些特殊类型的扫描电镜，如透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）和场发射扫描电镜（Field-Emission Scanning Electron Microscope，FE-SEM），具有更高的分辨率和更大的放大倍数能力，可以达到数十万倍甚至百万倍的放大倍数。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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