扫描电镜（SEM）是一种高分辨率的显微镜，主要用于以下几个方面。

提供高分辨率的表面形貌信息：SEM可以提供样品表面的高分辨率图像，可以观察到样品表面的微观形貌，例如表面纹理、裂缝、孔洞等，以及各种微观结构，例如颗粒、晶体、纤维等。

确定样品表面的成分：通过结合能量色散X射线光谱（EDS）或其他化学分析技术，SEM可以确定样品表面的化学成分和元素组成，例如金属合金、陶瓷、纤维素等。

观察样品表面的结构和形貌变化：通过SEM可以观察样品表面在不同条件下的形貌和结构变化，例如样品的裂纹、变形、磨损、氧化等，可以为材料科学研究和工程实践提供有用的信息。

帮助进行材料表面和界面的研究：SEM可帮助进行材料表面和界面的研究，例如观察纳米材料的表面形貌、晶体结构、晶界等，还可以用于研究多相材料和复合材料的界面结构和分布。

SEM可以提供高分辨率的表面形貌信息和化学成分信息，帮助进行材料的表征和分析。在材料科学、纳米技术、生物科学等领域中，SEM是一种重要的表征工具。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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