如何使用扫描电镜检测样品中的孔隙和缺陷？

使用扫描电子显微镜（SEM）检测样品中的孔隙和缺陷是一种常用的方法，尤其在材料科学、金属加工、半导体和纳米技术等领域中广泛应用。

扫描电镜中如何进行多点元素分布映射

u7cc彩票在扫描电子显微镜（SEM）中进行多点元素分布映射（即元素成分的空间分布分析），通常通过结合能量色散X射线光谱（EDS/EDX）技术来实现。

2024年10月10-13日，中国物理学会2024秋季学术会议将在海南国际会展中心举行。

u7cc彩票通过扫描电镜（SEM）进行样品的化学组成分析，通常需要结合能量色散X射线光谱（EDS，Energy Dispersive X-ray Spectroscopy）技术。

在扫描电镜（SEM）中进行自动化图像拼接（又称为马赛克成像或拼图成像）是实现大面积样品高分辨率图像的有效方式。

u7cc彩票在扫描电子显微镜（SEM）中，样品旋转功能可以通过调整样品的空间方向，影响成像的视角和样品表面特征的可见性。

u7cc彩票扫描电镜（SEM）中的真空环境对样品的成像效果有着至关重要的影响，主要体现在以下几个方面：

u7cc彩票扫描电镜（SEM）成像中的伪影（artifacts）可能会影响图像的质量和准确性，产生伪影的原因主要包括以下几种：